e-mikroskopy.pl

Olympus

Mikroskopy firmy Olympus należą do najwyższej klasy urządzeń. Przeznaczone są dla najbardziej wymagających użytkowników, ceniących sobie przede wszystkim precyzję i jakość obrazu w laboratoriach naukowych i przemysłowych. Planachromatyczna, bądź semi-apochromatyczna optyka UIS-2 korygowana do nieskończoności zapewnia świetny obraz i dokładność pomiarów. Oświetlacz halogenowy o mocy 100W radzi sobie z każdą wybraną przez użytkownika techniką obserwacji: polem jasnym polem ciemnym, polaryzacją, czy kontrastem interferencyjnym Nomarskiego.

Mikroskopy dolnostolikowe
Mikroskopy metalograficzne, dolnostolikowe, serii BX-41, BX-51, BX-53, BX-53M do obserwacji w polu jasnym, polu ...
Mikroskopy odwrócone
Mikroskopy metalograficzne, odwrócone serii GX-41, GX-51, GX-71, do obserwacji w polu jasnym, polu ciemnym, prostej ...
Stanowiska inspekcyjne
Zestawy do analizy obrazu obejmujące: mikroskop, specjalistyczną kamerę, zestaw komputerowy oraz stosowne oprogramowanie

 

7 produkt(ów)

na stronę

  1. GX41

    Olympus GX41

    Korekcja do nieskończonościObserwacja w świetle odbitymTrzeci tubus do połączenia kamery lub aparatuOświetlenie halogenowe

    Mikroskop GX41 w układzie odwróconym do prowadzenia obserwacji w polu jasnym. Przeznaczony dla laboratoriów technicznych, szczególnie rekomendowany dla odlewni.

    • obiektywy: 10x, 20x, 50x, 100x  lub 5x, 10x, 20x, 50x
    • obserwacje: pole jasne
    • oświetlenie: halogen 30W
    • kamera: Tak
    • zastosowanie: laboratoryjne
    Zobacz więcej (2 pozycje) ...
  2. Olympus GX53

    Olympus GX53

    Korekcja do nieskończonościObserwacja w świetle przechodzącymObserwacja w świetle odbitymTrzeci tubus do połączenia kamery lub aparatuBudowa modułowa, pozwalająca na łatwą rozbudowę.Oświetlenie LEDOświetlenie halogenowe

    Mikroskop metalograficzny GX53 w układzie odwróconym do prowadzenia obserwacji w polu jasnym, polu ciemnym, prostej polaryzacji i kontraście interferencyjnym DIC w świetle odbitym. Możliwy również tryb MIX. Przeznaczony do badań naukowych i najbardziej wymagających analiz w laboratoriach technicznych.

    • obiektywy: 5x, 10x, 20x, 50x, 100x
    • obserwacje: pole jasne, pole ciemne, kontrast Nomarskiego (DIC)
    • oświetlenie: LED / halogenowe 100W / lampa rtęciowa 100W
    • kamera: TAK
    • zastosowanie: badawcze i laboratoryjne
    Zobacz więcej ...
  3. System Cleanliness Inspector CIX10

    Cleanliness Inspector CIX100

    Wysokowydajne narzędzie złożone z oprogramowania i systemu mikroskopowego, przeznaczone do akwizycji i zliczania w trybie rzeczywistym obrazów zanieczyszczeń stałych na filtrach membranowych. System oświetlenia umożliwia odróżnienie światła odbitego od przechodzącego. Zanieczyszczenia są automatycznie klasyfikowane wg. kryteriów rozmiaru, zgodnie z wybraną normą. Oprogramowanie zawiera bazę wszystkich znaczących międzynarodowych standardów stosowanych w przemyśle motoryzacyjnym, lotniczym i kosmicznym. Możliwe jest również tworzenie własnych norm.

    • rozmiar filtra: do 47mm
    • automatyczna, zmotoryzowana oś Z
    • pomiar wysokości wybranych cząstek
    • zmotoryzowany stolik i rewolwer z 3 obiektywami UIS2: PLAPON 1.25X, MPLFLN 5X, MPLFLN 10X
    • wbudowane oświetlenie LED do jednoczesnego wykrywania cząstek odblaskowych i nieodblaskowych
    • kamera kolorowa CMOS
    • baza norm: ISO 11218:1993; ISO 14952; ISO 16232-10; ISO 21018; ISO4406:1999; ISO4407:1991; ISO12345:2013; NAS 1638-01; NF E48-651:1986; NF E48-655:1989; SAE AS4059E + normy własne
    • pełna zgodność z rekomendacjami VDA19:2016
    • identyfikacja grupy zanieczyszczeń: włókno, zanieczyszczenie odbijające światło, włókno odbijające światło itp.
    • zaawansowane raportowanie do MS2016
    Zobacz więcej ...
  4. BX53M do obserwacji w świetle przechodzącym i odbitym

    Olympus BX53M TRF

    Korekcja do nieskończonościObserwacja w świetle przechodzącymObserwacja w świetle odbitymTrzeci tubus do połączenia kamery lub aparatuBudowa modułowa, pozwalająca na łatwą rozbudowę.Oświetlenie LED
    Mikroskop metalograficzny Olympus BX53M z bazą BX53MTRF-S: przyciski trybów roboczych oświetlacza SET (do ustawienia powtarzalnej wartości intensywności oświetlenia) oraz LIM (do ustawienia automatycznego wyłączenia oświetlenia po 30 min czasie bezczynności), wbudowana blokada położenia stolika przedmiotowego, manualne współosiowe ogniskowanie zgrubne i precyzyjne (0.1 mm/obr, skok 1 um) w zakresie 25 mm, regulacja sprzęgła ogniskowania zgrubnego, przeznaczona do prowadzenia obserwacji w świetle odbitym oraz przechodzącym, oświetlacze episkopowy BX3M-RLA-S z obudową lampy BX3M-LEDR oraz diaskopowy z obudową lampy BX3M-LED, nasadka trinokularowa U-TR30, okulary 10x/22mm, manualny rewolwer 5-cio gniazdowy U-D5BDRE ze szczeliną do pryzmatów DIC, obiektywy do prowadzenia badań w jasnym i ciemnym polu fluorytowe klasy MPLNFLN 5x, 10x, 20x, 50x,100x zestaw do polaryzacji U-AN360 i U-PO3, wraz z pokrowcem i przewodem zasilającym UYCP. Zobacz więcej ...
  5. Mikroskop badawczy BX53M

    Olympus BX53M

    Korekcja do nieskończonościObserwacja w świetle przechodzącymObserwacja w świetle odbitymTrzeci tubus do połączenia kamery lub aparatuBudowa modułowa, pozwalająca na łatwą rozbudowę.Oświetlenie LEDOświetlenie halogenowe

    Mikroskop badawczy dolnostolikowy do prowadzenia obserwacji w polu jasnym, polu ciemnym, mieszanym (MIX), prostej polaryzacji, kontraście interferencyjnym, fluorescencji oraz IR w świetle odbitym oraz w polu jasnym i prostej polaryzacji w świetle przechodzącym. Przeznaczony do pracy w laboratoriach technicznych i naukowych. Posiada oświetlenie LED o mocy odpowiadającej 100W lampie halogenowej, możliwość podłączenia kamery, prowadzenia pomiarów morfometrycznych i analizy obrazu. Obiektywy plan semi-apochromatyczne. Zakres powiększeń 12.5x-1000x. Okulary 10x FN22 lub FN26.5. Stolik mechaniczny duży.

    • obiektywy:  1.25x, 2.5x, 5x, 10x, 20x, 50x, 100x
    • obserwacje: pole jasne BF, pole ciemne DF, prosta polaryzacja, kontraście interferencyjnym DIC, fluorescencji oraz IR
    • światło przechodzące i odbite
    • oświetlenie: LED (opcjonalnie halogen 100W)
    • kamera: Tak
    • zastosowanie: laboratoryjne, badawcze
    Zobacz więcej (2 pozycje) ...
  6. Olympus Particle Detection

    Olympus Particle Detection

    Zmotoryzowany system oparty na jednym z wybranych mikroskopów serii BX, bądź MX i najwyższej klasy optykę semi-planapochromatyczną UIS -2. W zestawie znajduje się oprogramowanie FilterInspector oraz specjalistyczne moduły do analizy metalograficznej. Particle Detection stanowi otwartą i uniwersalną platformę do analizy obrazu w oparciu o normy, a także umożliwia tworzenie własnych norm zakładowych.

    • wybrany mikroskop serii BX, bądź MX
    • system zmotoryzowany
    • oprogramowanie FilterInspector
    Zobacz więcej ...
  7. Inclusion Inspector

    Olympus Inclusion Inspector

    Inclusion Inspector - Kompletne urządzenie do analizy i klasyfikacji wtrąceń metalicznych i niemetalicznych w stalach. Metoda pozwala na dokładne określenie ilości, wielkości i rodzaju wtrąceń oraz ich klasyfikację według znormalizowanych parametrów Zobacz więcej ...

7 produkt(ów)

na stronę

Wybrani producenci