Metrologia i pomiary nanometryczne kropek kwantowych i nanowłókien
Mamy przyjemność zarekomendować Państwu najnowszy biuletyn SurFace firmy DigitalSurf, tym razem poświęcony problemom nanotechnologii i pomiarom w skali nanometrycznej. Biuletyn przedstawia prace dwóch naukowców: Bruno Grandidieara z IEMN (Francja) i Angela Pérez del Pino z ICMAB-CSIC (Hiszpania). Obaj zajmują się praktycznymi aspektami nanotechnologii, w szczególności pomiarami morfologicznymi i metrologicznymi nanowłókien oraz kropek kwantowych. W swoich pracach wykorzystują oprogramowanie firmy DigitalSurf, z którą mamy przyjemność ściśle współpracować.

Zawartość wydania:
Wyzwania przy określaniu morfologii nanowłókien
• Unikalna geometria nanowłókien.
• Określanie orientacji powierzchni nanowłókien i struktury atomowej.
Bruno Grandidier, IEMN, Lille, France
Kropki kwantowe: powzrostowa lokalna strukturyzacja za pomocą lasera pulsacyjnego
• Kropki kwantowe (QD) Ge oraz Si-Ge.
• Morfologia powierzchni kropek kwantowych (QD) w nanoskali.
• Wyniki laserowo inkludowanych modyfikacji.
Angel Pérez del Pino, ICMAB-CSIC, Barcelona, Spain
Pobieranie:
W celu pobrania biuletynu SurFace (PDF, 1.2MB) prosimy o skorzystanie z poniższego linku:
http://www.digitalsurf.fr/newsletters/newsletter-2011-11.pdf
MountainsMap® to unikalne oprogramowanie do obrazowania powierzchni oraz do metrologii w oparciu o obrazy uzyskiwane z mikroskopów skaningowych, optycznych, profilometrów i innych przyrządów do metrologii powierzchni.
<< Wstecz
