Metrologia i pomiary nanometryczne kropek kwantowych i nanowłókien

Mamy przyjemność zarekomendować Państwu najnowszy biuletyn SurFace firmy DigitalSurf, tym razem poświęcony problemom nanotechnologii i pomiarom w skali nanometrycznej. Biuletyn przedstawia prace dwóch naukowców: Bruno Grandidieara z IEMN (Francja) i Angela Pérez del Pino z ICMAB-CSIC (Hiszpania). Obaj zajmują się praktycznymi aspektami nanotechnologii, w szczególności pomiarami morfologicznymi i metrologicznymi nanowłókien oraz kropek kwantowych. W swoich pracach wykorzystują oprogramowanie firmy DigitalSurf, z którą mamy przyjemność ściśle współpracować.

 

Zawartość wydania:

Wyzwania przy określaniu morfologii nanowłókien

• Unikalna geometria nanowłókien.
• Określanie orientacji powierzchni nanowłókien i struktury atomowej.

Bruno Grandidier, IEMN, Lille, France


Kropki kwantowe: powzrostowa lokalna strukturyzacja za pomocą lasera pulsacyjnego

•  Kropki kwantowe (QD) Ge oraz Si-Ge.
•  Morfologia powierzchni kropek kwantowych (QD) w nanoskali.
•  Wyniki laserowo inkludowanych modyfikacji.

Angel Pérez del Pino, ICMAB-CSIC, Barcelona, Spain

 

Pobieranie:

W celu pobrania biuletynu SurFace  (PDF, 1.2MB) prosimy o skorzystanie z poniższego linku:

http://www.digitalsurf.fr/newsletters/newsletter-2011-11.pdf

MountainsMap® to unikalne oprogramowanie do obrazowania powierzchni oraz do metrologii w oparciu o obrazy uzyskiwane z mikroskopów skaningowych, optycznych, profilometrów i innych przyrządów do metrologii powierzchni.


Zobacz MountainsMap® firmy DigitalSurf w naszym katalogu


<< Wstecz