Mikroskopy metalograficzne

Mikroskop metalograficzny Olympus BX53M z bazą BX53MTRF-S: przyciski trybów roboczych oświetlacza SET (do ustawienia powtarzalnej wartości intensywności oświetlenia) oraz LIM (do ustawienia automatycznego wyłączenia oświetlenia po 30 min czasie bezczynności), wbudowana blokada położenia stolika przedmiotowego, manualne współosiowe ogniskowanie zgrubne i precyzyjne (0.1 mm/obr, skok 1 um) w zakresie 25 mm, regulacja sprzęgła ogniskowania zgrubnego, przeznaczona do prowadzenia obserwacji w świetle odbitym oraz przechodzącym, oświetlacze episkopowy BX3M-RLA-S z obudową lampy BX3M-LEDR oraz diaskopowy z obudową lampy BX3M-LED, nasadka trinokularowa U-TR30, okulary 10x/22mm, manualny rewolwer 5-cio gniazdowy U-D5BDRE ze szczeliną do pryzmatów DIC, obiektywy do prowadzenia badań w jasnym i ciemnym polu fluorytowe klasy MPLNFLN 5x, 10x, 20x, 50x,100x zestaw do polaryzacji U-AN360 i U-PO3, wraz z pokrowcem i przewodem zasilającym UYCP. Zobacz więcej ...

Mikroskop badawczy dolnostolikowy do prowadzenia obserwacji w polu jasnym, polu ciemnym, mieszanym (MIX), prostej polaryzacji, kontraście interferencyjnym, fluorescencji oraz IR w świetle odbitym oraz w polu jasnym i prostej polaryzacji w świetle przechodzącym. Przeznaczony do pracy w laboratoriach technicznych i naukowych. Posiada oświetlenie LED o mocy odpowiadającej 100W lampie halogenowej, możliwość podłączenia kamery, prowadzenia pomiarów morfometrycznych i analizy obrazu. Obiektywy plan semi-apochromatyczne. Zakres powiększeń 12.5x-1000x. Okulary 10x FN22 lub FN26.5. Stolik mechaniczny duży.

• obiektywy:  1.25x, 2.5x, 5x, 10x, 20x, 50x, 100x
• obserwacje: pole jasne BF, pole ciemne DF, prosta polaryzacja, kontraście interferencyjnym DIC, fluorescencji oraz IR
• światło przechodzące i odbite
• oświetlenie: LED (opcjonalnie halogen 100W)
• kamera: Tak
• zastosowanie: laboratoryjne, badawcze

Zobacz więcej (2 pozycje) ...

Mikroskop metalograficzny GX53 w układzie odwróconym do prowadzenia obserwacji w polu jasnym, polu ciemnym, prostej polaryzacji i kontraście interferencyjnym DIC w świetle odbitym. Możliwy również tryb MIX. Przeznaczony do badań naukowych i najbardziej wymagających analiz w laboratoriach technicznych.

• obiektywy: 5x, 10x, 20x, 50x, 100x
• obserwacje: pole jasne, pole ciemne, kontrast Nomarskiego (DIC)
• oświetlenie: LED / halogenowe 100W / lampa rtęciowa 100W
• kamera: TAK
• zastosowanie: badawcze i laboratoryjne

Zobacz więcej ...

Wysokowydajne narzędzie złożone z oprogramowania i systemu mikroskopowego, przeznaczone do akwizycji i zliczania w trybie rzeczywistym obrazów zanieczyszczeń stałych na filtrach membranowych. System oświetlenia umożliwia odróżnienie światła odbitego od przechodzącego. Zanieczyszczenia są automatycznie klasyfikowane wg. kryteriów rozmiaru, zgodnie z wybraną normą. Oprogramowanie zawiera bazę wszystkich znaczących międzynarodowych standardów stosowanych w przemyśle motoryzacyjnym, lotniczym i kosmicznym. Możliwe jest również tworzenie własnych norm.

• rozmiar filtra: do 47mm
• automatyczna, zmotoryzowana oś Z
• pomiar wysokości wybranych cząstek
• zmotoryzowany stolik i rewolwer z 3 obiektywami UIS2: PLAPON 1.25X, MPLFLN 5X, MPLFLN 10X
• wbudowane oświetlenie LED do jednoczesnego wykrywania cząstek odblaskowych i nieodblaskowych
• kamera kolorowa CMOS
• baza norm: ISO 11218:1993; ISO 14952; ISO 16232-10; ISO 21018; ISO4406:1999; ISO4407:1991; ISO12345:2013; NAS 1638-01; NF E48-651:1986; NF E48-655:1989; SAE AS4059E + normy własne
• pełna zgodność z rekomendacjami VDA19:2016
• identyfikacja grupy zanieczyszczeń: włókno, zanieczyszczenie odbijające światło, włókno odbijające światło itp.
• zaawansowane raportowanie do MS2016

Zobacz więcej ...

Inclusion Inspector - Kompletne urządzenie do analizy i klasyfikacji wtrąceń metalicznych i niemetalicznych w stalach. Metoda pozwala na dokładne określenie ilości, wielkości i rodzaju wtrąceń oraz ich klasyfikację według znormalizowanych parametrów Zobacz więcej ...