e-mikroskopy.pl

Pomiary nanometryczne

05.10.2015 23:14

Mamy przyjemność zarekomendować Państwu biuletyn SurFace firmy DigitalSurf, tym razem poświęcony problemom nanotechnologii i pomiarom w skali nanometrycznej. Biuletyn przedstawia prace dwóch naukowców: Bruno Grandidieara z IEMN (Francja) i Angela Pérez del Pino z ICMAB-CSIC (Hiszpania). Obaj zajmują się praktycznymi aspektami nanotechnologii, w szczególności pomiarami morfologicznymi i metrologicznymi nanowłókien oraz kropek kwantowych. W swoich pracach wykorzystują oprogramowanie firmy DigitalSurf, z którą mamy przyjemność ściśle współpracować.

MountainsMap® firmy firmy DigitalSurf to unikalne oprogramowanie do obrazowania powierzchni oraz do metrologii w oparciu o obrazy uzyskiwane z mikroskopów skaningowych, optycznych, profilometrów i innych przyrządów do metrologii powierzchni.

 

W naszym katalogu: MountainsMap® firmy DigitalSurf

 

 

 

Zawartość wydania:

Wyzwania przy określaniu morfologii nanowłókien

• Unikalna geometria nanowłókien.
• Określanie orientacji powierzchni nanowłókien i struktury atomowej. 

Bruno Grandidier, IEMN, Lille, France


Kropki kwantowe: powzrostowa lokalna strukturyzacja za pomocą lasera pulsacyjnego

•  Kropki kwantowe (QD) Ge oraz Si-Ge.
•  Morfologia powierzchni kropek kwantowych (QD) w nanoskali.
•  Wyniki laserowo inkludowanych modyfikacji.

Angel Pérez del Pino, ICMAB-CSIC, Barcelona, Spain


Pobieranie:

W celu pobrania biuletynu SurFace  (PDF, 1.2MB) prosimy o skorzystanie z poniższego linku:

http://www.digitalsurf.fr/newsletters/newsletter-2011-11.pdf

 



Opublikowane w: ▒ Recenzje mikroskopów
Autor:

Jan Iwanicki

Wybrani producenci