Mikroskopy inspekcyjne

Zakres powiększeń od 20X do 7000X umożliwia prowadzenie obserwacji przeglądowych przy małym powiększeniu, a następnie płynne powiększanie detali aż do poziomu mikronowego. System DSX1000 oferuje dużą głębię ostrości i dużą odległość roboczą, dzięki czemu możliwe jest prowadzenie obserwacji próbek o nieregularnej powierzchni przy mniejszym ryzyku uszkodzenia obiektywu.

• układ optyczny: telecentryczny
• zoom: 10X (ruch zmotoryzowany)
• maksymalne powiększenie całkowite (na monitorze): 7000x
• kalibracja: automatyczna
• przystawki obiektywu: szybkowymienialne, kodowane przystawki obiektywu automatycznie aktualizują informacje o powiększeniu i polu obserwacji
• odległość robocza (W.D.): 66,1–0,35 mm
• kamera: 1/1,2 cala, 2,35 miliona pikseli, kolorowa CMOS, chłodzona
• oświetlenie: LED
• obserwacja: BF, DF, MIX, PO, DIC, zwiększenie kontrastu, zwiększenie głębi ostrości
• światło przechodzące
• stolik: zakres ruchu 101mm (zmotoryzowany)

Wysokowydajne narzędzie złożone z oprogramowania i systemu mikroskopowego, przeznaczone do akwizycji i zliczania w trybie rzeczywistym obrazów zanieczyszczeń stałych na filtrach membranowych. System oświetlenia umożliwia odróżnienie światła odbitego od przechodzącego. Zanieczyszczenia są automatycznie klasyfikowane wg. kryteriów rozmiaru, zgodnie z wybraną normą. Oprogramowanie zawiera bazę wszystkich znaczących międzynarodowych standardów stosowanych w przemyśle motoryzacyjnym, lotniczym i kosmicznym. Możliwe jest również tworzenie własnych norm.

• rozmiar filtra: do 47mm
• automatyczna, zmotoryzowana oś Z
• pomiar wysokości wybranych cząstek
• zmotoryzowany stolik i rewolwer z 3 obiektywami UIS2: PLAPON 1.25X, MPLFLN 5X, MPLFLN 10X
• wbudowane oświetlenie LED do jednoczesnego wykrywania cząstek odblaskowych i nieodblaskowych
• kamera kolorowa CMOS
• baza norm: ISO 11218:1993; ISO 14952; ISO 16232-10; ISO 21018; ISO4406:1999; ISO4407:1991; ISO12345:2013; NAS 1638-01; NF E48-651:1986; NF E48-655:1989; SAE AS4059E + normy własne
• pełna zgodność z rekomendacjami VDA19:2016
• identyfikacja grupy zanieczyszczeń: włókno, zanieczyszczenie odbijające światło, włókno odbijające światło itp.
• zaawansowane raportowanie do MS2016

Zmotoryzowany system oparty na jednym z wybranych mikroskopów serii BX, bądź MX i najwyższej klasy optykę semi-planapochromatyczną UIS -2. W zestawie znajduje się oprogramowanie FilterInspector oraz specjalistyczne moduły do analizy metalograficznej. Particle Detection stanowi otwartą i uniwersalną platformę do analizy obrazu w oparciu o normy, a także umożliwia tworzenie własnych norm zakładowych.

• wybrany mikroskop serii BX, bądź MX
• system zmotoryzowany
• oprogramowanie FilterInspector

Mikroskop metalograficzny - inspekcyjny trinokularowy - specjalna wersja ze statywem pozwalającym na badanie większych próbek (ta wersja stanowi wygodną alternatywę dla mikroskopów metalograficznych górnostolikowych).

• obiektywy: 5x, 10x, 20x, 50x ,(opcja ob. 100x)
• obserwacje: światło odbite
• techniki obserwacji: pole jasne
• kamera: trzeci tubus
  
• uświetlenie: halogenowe 50W
• zastosowanie: laboratoryjne

Mikroskop, podobnie jak cała seria do której należy, posiada wysokiej klasy optykę planachromatyczną CCIS z korekcją nieskończoności i obiektywami wykonanymi ze szkła bezołowiowego.

Mikroskop inspekcyjny wyposażony w najwyższej klasy obiektywy długodystansowe klasy: ELWD (Extra Long Working Dystance) z regulacją parafokalności oraz obiektywy ULWD (Ultra Long Working Dystance).

• powiększenie: 20 ÷ 2000x
• kamera: TAK
• możliwość pracy z laserem (532nm ÷ 1064nm)
• dzielnik wiązki okular - laser 100/0 lub 0/100
• zestaw do bezpiecznej pracy z laserem

Wysokiej klasy, zmotoryzowany mikroskop pomiarowy z bardzo dużym stolikiem 12x8", zmotoryzowanymi osiami X/Y/Z oraz zmotoryzowanym rewolwerem obiektywowym. Pozwala na prezyzyjne pomiary planimetryczne (w tym w osi Z) oraz profilowanie 3D.

• całkowicie zmotoryzowany układ sterowania stolikiem, głowicą i rewolwerem
• powiększenia 50x do 1000x
• stolik przedmiotowy 300 x 200mm
• wspomagane komputerowo ogniskowanie
• oprogramowanie do automatyzacji procesów pomiarowych
• bardzo trwała, niezawodna konstrukcja do zastosowań przemysłowych

Wysokiej klasy mikroskop inspekcyjny do prowadzenia obserwacji w polu jasnym i ciemnym, w świetle odbitym jak również przechodzącym. Charakteryzuje się bardzo stabilną podstawą i olbrzymią przestrzenią roboczą stolika. Mikroskop pozwala na sprzętową integrację z oprogramowaniem PANASIS UPRIGHT, automatyczne rozpoznawanie wybranego powiększenia z przywołaniem odpowiednich ustawień kalibracyjnych i pamięcią ustawień intensywności oświetlenia.

• powiększenia 50x do 1000x
• obserwacje w świetle przechodzącym i/lub odbitym
• nasadka trinokularowa z dwupozycyjną zwrotnicą podziału światła
• obiektywy fluorytowe semi-apochromatycznne 5x, 10x, 20x, 50x i 100x
• okulary 10x FN25 z regulacją dioptrii ±5D
• rewolwer z kodowaniem pozycji obiektywów
• bardzo duży stolik przedmiotowy o wymiarach do 710x419mm
• oświetlacz 100W
• wbudowane w podstawę filtry światła dziennego ND6 i ND25
• interfejs RS232 do współpracy z oprogramowaniem PANASIS UPRIGHT
• rozbudowa o kontrast Nomarskiego (DIC), polaryzację, filtry barwy światła