Olympus
-
Mikroskop cyfrowy Olympus DSX1000
Zakres powiększeń od 20X do 7000X umożliwia prowadzenie obserwacji przeglądowych przy małym powiększeniu, a następnie płynne powiększanie detali aż do poziomu mikronowego. System DSX1000 oferuje dużą głębię ostrości i dużą odległość roboczą, dzięki czemu możliwe jest prowadzenie obserwacji próbek o nieregularnej powierzchni przy mniejszym ryzyku uszkodzenia obiektywu.
- układ optyczny: telecentryczny
- zoom: 10X (ruch zmotoryzowany)
- maksymalne powiększenie całkowite (na monitorze): 7000x
- kalibracja: automatyczna
- przystawki obiektywu: szybkowymienialne, kodowane przystawki obiektywu automatycznie aktualizują informacje o powiększeniu i polu obserwacji
- odległość robocza (W.D.): 66,1–0,35 mm
- kamera: 1/1,2 cala, 2,35 miliona pikseli, kolorowa CMOS, chłodzona
- oświetlenie: LED
- obserwacja: BF, DF, MIX, PO, DIC, zwiększenie kontrastu, zwiększenie głębi ostrości
- światło przechodzące
- stolik: zakres ruchu 101mm (zmotoryzowany)
Cleanliness Inspector CIX100
Wysokowydajne narzędzie złożone z oprogramowania i systemu mikroskopowego, przeznaczone do akwizycji i zliczania w trybie rzeczywistym obrazów zanieczyszczeń stałych na filtrach membranowych. System oświetlenia umożliwia odróżnienie światła odbitego od przechodzącego. Zanieczyszczenia są automatycznie klasyfikowane wg. kryteriów rozmiaru, zgodnie z wybraną normą. Oprogramowanie zawiera bazę wszystkich znaczących międzynarodowych standardów stosowanych w przemyśle motoryzacyjnym, lotniczym i kosmicznym. Możliwe jest również tworzenie własnych norm.
- rozmiar filtra: do 47mm
- automatyczna, zmotoryzowana oś Z
- pomiar wysokości wybranych cząstek
- zmotoryzowany stolik i rewolwer z 3 obiektywami UIS2: PLAPON 1.25X, MPLFLN 5X, MPLFLN 10X
- wbudowane oświetlenie LED do jednoczesnego wykrywania cząstek odblaskowych i nieodblaskowych
- kamera kolorowa CMOS
- baza norm: ISO 11218:1993; ISO 14952; ISO 16232-10; ISO 21018; ISO4406:1999; ISO4407:1991; ISO12345:2013; NAS 1638-01; NF E48-651:1986; NF E48-655:1989; SAE AS4059E + normy własne
- pełna zgodność z rekomendacjami VDA19:2016
- identyfikacja grupy zanieczyszczeń: włókno, zanieczyszczenie odbijające światło, włókno odbijające światło itp.
- zaawansowane raportowanie do MS2016
Olympus Particle Detection
Zmotoryzowany system oparty na jednym z wybranych mikroskopów serii BX, bądź MX i najwyższej klasy optykę semi-planapochromatyczną UIS -2. W zestawie znajduje się oprogramowanie FilterInspector oraz specjalistyczne moduły do analizy metalograficznej. Particle Detection stanowi otwartą i uniwersalną platformę do analizy obrazu w oparciu o normy, a także umożliwia tworzenie własnych norm zakładowych.
- wybrany mikroskop serii BX, bądź MX
- system zmotoryzowany
- oprogramowanie FilterInspector
Olympus Inclusion Inspector
Inclusion Inspector - Kompletne urządzenie do analizy i klasyfikacji wtrąceń metalicznych i niemetalicznych w stalach. Metoda pozwala na dokładne określenie ilości, wielkości i rodzaju wtrąceń oraz ich klasyfikację według znormalizowanych parametrów Zobacz więcej ...